ANALISI DELLA PELLE
SKIN STANDARD + TEWL
Il test della pelle – Skin Standard + Tewl permette al cliente di ottenere la valutazione dei più importanti parametri della propria pelle.
Oltre alle analisi standard e alla mappatura della superficie cutanea con l’utilizzo della microtelecamera, il nostro sistema è stato ulteriormente implementato con la misurazione dell’indice della TEWL (Trans Epidermal Water Loss).
I dati che verranno raccolti da questa consulenza serviranno per comprendere le caratteristiche della vostra pelle e definire il programma cosmetico più adatto per le vostre specifiche esigenze.
Si richiede al cliente di non utilizzare prodotti cosmetici (es. creme viso, trucchi, ecc.) durante la giornata in cui si svolgerà la consulenza presso il nostro Dipartimento per non interferire con i risultati del test della pelle.
Le consulenze cosmetiche non hanno carattere medico/diagnostico ma sono esclusivamente rivolte all’analisi cosmetica della pelle al fine di consigliare i prodotti cosmetici più adatti alle proprie esigenze e valutarne gli effetti.
-Clienti che necessitano di una consulenza specifica sui trattamenti cosmetici da impiegare nel corso del tempo
-Clienti che necessitano di monitorare l’efficacia cosmetica dei trattamenti
-Clienti inseriti nei programmi di ricerca del Dipartimento
-Indice di idratazione
-Indice TEWL (trans epidermal water loss)
-Indice sebometrico
-Indice di -invecchiamento
-Indice della rugosità
-Indice della trama cutanea
-Indice della porosità
-Indice di pigmentazione
-Rilevazione digitale ad alta risoluzione delle rughe
– 30 minuti
– 30€
Si informano gli utenti che, a seguito del decreto legge n. 127 del 21 settembre 2021 (e dai successi aggiornamenti),
l’accesso ai locali presso la sede della Voxal Coporation è consentito esclusivamente agli utenti muniti di certificazione verde (Green Pass).
E’ pertanto previsto all’ingresso il controllo della validità della certificazione.
Sarà inoltre richiesta la compilazione dell’autocertificazione ai sensi degli artt. 46 e 47 D.P.R 445/2000
